详细信息:
用于低频/高频智能卡、RFID Inlay标签及电感元件的射频性能检测
T8200PRO-G是一款来自日本Testram公司的顶级RFID综合测试仪。对RFID、智能卡(非接及双界面)、无线供电、功率电感器的研发及制造、科研教育、实验室或检测机构,以及集成到自动化生产线上都是不二之选!
功能特点:
※ 精准测量各种尺寸规格的低频和高频谐振器件的性能参数,包括:谐振频率、衰减量、Q值、支持读取UID码以及部分芯片类型的识别
※ 能测试传输或反射特性(包括方向耦合),可调射频输入功率,模拟读卡器
※ 测试结果和波形能自动写入日志文件
※ 预设测试范围,判定样品是否合格
※ 单机联电脑版(单品测试用)以及联机自动化方案(批量生产用)
应用范围:
※ 智能卡、RFID标签的谐振频率检测:判断测量结果是否通过;自动生成检查日志文件;可调射频功率-30dBm~15dBm芯片绑定前可对射频天线检测,如双界面卡的线圈inlay
※ RFID读写天线的谐振频率检测
※ 无线供电线圈及功率电感器件的自谐振频率检测
产品规格:
测量原理
|
磁场耦合
|
测量内容
|
传输电压和反射电压的振幅
|
检测项目
|
谐振频率、衰减量、Q值、UID、芯片类型(部分)
|
支持协议
|
ISO14443A(如MIFARE Classic, MIFARE Ultralight)
ISO14443B(仅PUPI),Felica
ISO15693 (如Tag-it HF-I Plus/Pro,ICODE SLIX2)
|
测量点数
|
100~2048 点
|
检测时间
高频频段测量点数=1000
|
谐振频率检测:0.5秒
谐振频率和UID读取:1秒
|
检测结果
检测波形保存功能
|
检测日志文件(csv):
UID、通过/不通过、谐振频率、衰减、Q值
波形数据:.csv,.jpg
|
频率设置范围
|
10KHZ~100MHZ
|
可调的射频功率(@50Ωload)
|
-30~15dBm
|
DIO电路类型
|
隔离I/O
|
支持系统
|
PC(OS) Windows7,Windows8.1,Windows10
USB2.0或更高
|
电源
|
USB总电源(小号电源500毫安或以下)
|
包装清单
|
主机、USB接口线、同轴电缆(2根)、高频标准卡尺寸测试治具、可选的不同尺寸规格测试天线板、安装驱动盘
|
尺寸、重量
|
125(W)165(D)x40(H)(不包括测试治具),0.8kg
|
欢迎发样免费测试!
|